单选：半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下，来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于（）A．可靠性测定试B．可靠性鉴定试验C．可靠性验收实验D．环境

题目内容：

半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下，来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于（）
A．可靠性测定试
B．可靠性鉴定试验
C．可靠性验收实验
D．环境应力筛选试验

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PWM是脉冲宽度调制的缩写，PWM调速单元是指______。A．晶闸管相控整流器速度控制单元B．直流伺服电机及其速度检测单元C．大功率晶体管

PWM是脉冲宽度调制的缩写，PWM调速单元是指______。A．晶闸管相控整流器速度控制单元B．直流伺服电机及其速度检测单元C．大功率晶体管斩波器速度控制单元D．感应电动机变频调速系统

分类：管理学题型：单选

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